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電子元器件周期檢驗(yàn)的主要內(nèi)容
來源:互聯(lián)網(wǎng) | 作者:中華IC網(wǎng)整理 | 發(fā)表于:2013-12-04
電子元器件周期檢驗(yàn)是在規(guī)定的周期內(nèi),從逐批檢驗(yàn)合格的某個(gè)批或若干批中抽取樣本,并施加各種應(yīng)力的各項(xiàng)試驗(yàn),然后檢測產(chǎn)品判斷其是否符合規(guī)定要求的一種檢驗(yàn)

      電子元器件周期檢驗(yàn)是在規(guī)定的周期內(nèi),從逐批檢驗(yàn)合格的某個(gè)批或若干批中抽取樣本,并施加各種應(yīng)力的各項(xiàng)試驗(yàn),然后檢測產(chǎn)品判斷其是否符合規(guī)定要求的一種檢驗(yàn)。其主要內(nèi)容包括:

1.
周期規(guī)定、檢驗(yàn)分組和樣品;
2.
檢驗(yàn)項(xiàng)目和程序;
3.
周期檢驗(yàn)缺陷分類和失效判據(jù);
4.
周期檢驗(yàn)結(jié)果判定和處置。

  1.周期規(guī)定、檢驗(yàn)分組和樣品

 ?。?)檢驗(yàn)周期規(guī)定:根據(jù)產(chǎn)品的特性及生產(chǎn)過程質(zhì)量穩(wěn)定的情況,再綜合考慮其他的因素,適當(dāng)?shù)匾?guī)定檢驗(yàn)周期。產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中一般都給出了該產(chǎn)品在正常穩(wěn)定生產(chǎn)情況下進(jìn)行周期檢驗(yàn)的時(shí)間間隔(如三個(gè)月,六個(gè)月,一年等),但對不同的檢驗(yàn)組,規(guī)定不同的檢驗(yàn)周期。

 ?。?)檢驗(yàn)分組與樣品:電子元器件周期檢

  驗(yàn)分為C組和D組,C組為環(huán)境試驗(yàn),D組為耐久性壽命試驗(yàn)。周期檢驗(yàn)的樣品,應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的抽樣方案和檢查水平及規(guī)定的樣品數(shù),從本周期內(nèi)經(jīng)逐批檢驗(yàn)合格的一個(gè)批或幾個(gè)批中隨機(jī)抽取,加倍或二次試驗(yàn)的樣品在抽樣時(shí)一次取足。

  2.檢驗(yàn)項(xiàng)目

 ?。?)常溫性能檢查:試驗(yàn)前在正常工作的條件下,對被試樣品進(jìn)行定性和定量檢查,判斷產(chǎn)品質(zhì)量是否全面符合產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)和國家標(biāo)準(zhǔn)要求,或符合訂貨合同的規(guī)定。由于電子產(chǎn)品種類多,用途廣,表征產(chǎn)品特性的技術(shù)參數(shù)很多,常溫性能檢測時(shí),應(yīng)嚴(yán)格按照技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,進(jìn)行全部指標(biāo)或部分指標(biāo)檢測,檢測合格的產(chǎn)品方可進(jìn)行周期檢驗(yàn)項(xiàng)目中的其他項(xiàng)目的試驗(yàn)。

 ?。?)環(huán)境試驗(yàn):為了評價(jià)在規(guī)定周期生產(chǎn)批的產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)能力,將經(jīng)過性能檢測合格的產(chǎn)品,在人工模擬的環(huán)境條件下試驗(yàn),以此評價(jià)產(chǎn)品在實(shí)際使用、運(yùn)輸和貯存環(huán)境條件下的性能是否滿足產(chǎn)品定型鑒定檢驗(yàn)時(shí)達(dá)到的環(huán)境適應(yīng)能力。

  環(huán)境試驗(yàn)包括高溫負(fù)荷貯存試驗(yàn)、低溫負(fù)荷貯存試驗(yàn)、高低溫變化試驗(yàn)、交變濕熱和恒定濕熱試驗(yàn)、低氣壓試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、沖擊碰撞、跌落、加速度試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)等。由于電子產(chǎn)品使用環(huán)境不一樣,在周期環(huán)境試驗(yàn)中,規(guī)定的環(huán)境試驗(yàn)項(xiàng)目可能是單項(xiàng)試驗(yàn),也可能是組合或綜合試驗(yàn)。

      3.周期檢驗(yàn)缺陷分類和失效判據(jù);

(1)在一個(gè)周期試驗(yàn)組中發(fā)現(xiàn)一個(gè)致命缺陷,則判該試驗(yàn)組不合格。

(2)若在試驗(yàn)樣品中發(fā)現(xiàn)的不合格品數(shù)小于或等于合格判定數(shù),則判該試驗(yàn)組合格。若試驗(yàn)中的不合格判定數(shù)大于或等于不合格判定數(shù),則判該試驗(yàn)組不合格。

(3)本周期內(nèi),所有試驗(yàn)分組都合格,則本周期檢驗(yàn)合格。否則就判該周期檢驗(yàn)不合格。

(4)周期檢驗(yàn)不合格,該產(chǎn)品暫停逐批檢驗(yàn)。已生產(chǎn)的產(chǎn)品和已交付的產(chǎn)品由供需雙方協(xié)商解決,并將處理經(jīng)過記錄在案。

(5)周期檢驗(yàn)不合格,供方應(yīng)立即查明原因,采取措施。需方在供方采取改進(jìn)措施后,在重新提交的產(chǎn)品中抽樣,對不合格試驗(yàn)項(xiàng)目或試驗(yàn)分組重新試驗(yàn),直至試驗(yàn)合格后,供方才能恢復(fù)正常生產(chǎn)和逐批試驗(yàn)。


  4.周期檢驗(yàn)結(jié)果判定和處置

  電子元器件質(zhì)量一致性檢驗(yàn)結(jié)果是通過逐批檢驗(yàn)結(jié)果和周期檢驗(yàn)結(jié)果是否合格來判定的。逐批與周期檢驗(yàn)結(jié)果合格,可認(rèn)為該元器件的鑒定批準(zhǔn)得以維持。但如果檢驗(yàn)不合格,即沒有通過質(zhì)量一致性檢驗(yàn),或沒有正確地執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范要求和IECQ的程序規(guī)則時(shí),則鑒定批準(zhǔn)應(yīng)予暫?;虺废?。

  總而言之,逐批檢驗(yàn)的抽樣檢驗(yàn)方式在電子元器件產(chǎn)品生產(chǎn)檢驗(yàn)中廣泛采用,正確掌握和使用抽樣檢驗(yàn)技術(shù),對生產(chǎn)實(shí)際過程的產(chǎn)品質(zhì)量控制有很直接明顯的作用。周期檢驗(yàn)對產(chǎn)品的質(zhì)量在模擬的環(huán)境條件下進(jìn)行試驗(yàn)檢查。產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了各種試驗(yàn)項(xiàng)目和所采用的試驗(yàn)方法及檢測技術(shù),從而為產(chǎn)品質(zhì)量一致性和穩(wěn)定性提供保證。通過由逐批檢驗(yàn)和周期檢驗(yàn)所構(gòu)成的質(zhì)量一致性檢驗(yàn),能客觀全面地反映產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中和各種不同使用環(huán)境條件下的質(zhì)量狀況,從而達(dá)到在生產(chǎn)過程中控制產(chǎn)品質(zhì)量并在規(guī)定的周期內(nèi),保證產(chǎn)品質(zhì)量保持在鑒定批準(zhǔn)時(shí)達(dá)到的質(zhì)量水平。

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