LX9300大功率分立器件測(cè)試系統(tǒng)是由北京勵(lì)芯泰思特測(cè)試技術(shù)有限公司自主研制、開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)的半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試的專(zhuān)用設(shè)備, 本測(cè)試系統(tǒng)不僅滿(mǎn)足大功率VDMOS的GFS(跨導(dǎo))測(cè)試、IGBT功率參數(shù)的測(cè)試,還涵蓋中小功率半導(dǎo)體器件的測(cè)試,適用于半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠家進(jìn)行圓片中測(cè)或封裝成測(cè),各類(lèi)整機(jī)廠家、科研院所的質(zhì)量檢測(cè)部門(mén)進(jìn)行入廠檢驗(yàn)、可靠性分析測(cè)試測(cè)試原理符合《GJB 128 半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》、《GJB 33A-97 半導(dǎo)體分立器件總規(guī)范》《SJ/Z 9014 半導(dǎo)體器件 分立器件》、《SJ 2215.1-82 半導(dǎo)體光耦器測(cè)試方法》等相應(yīng)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家軍用標(biāo)準(zhǔn)。
系統(tǒng)的人機(jī)界面有好,編程容易,軟件能對(duì)用戶(hù)輸入的數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)查錯(cuò)。
系統(tǒng)軟件可進(jìn)行器件參數(shù)的分檔、分類(lèi)編程,并可實(shí)時(shí)顯示和記錄分檔、分類(lèi)測(cè)試結(jié)果,測(cè)試結(jié)果和統(tǒng)計(jì)結(jié)果均可以用EXCEL格式存貯于計(jì)算機(jī)中,根據(jù)需要可以打印輸出。
系統(tǒng)為模塊化、開(kāi)放式結(jié)構(gòu),具有升級(jí)擴(kuò)展?jié)撃堋?
系統(tǒng)特點(diǎn)
◆ PC機(jī)為系統(tǒng)的主控機(jī)
◆ 菜單式測(cè)試程序編輯軟件操作簡(jiǎn)便
◆ 預(yù)先連接測(cè)試自動(dòng)識(shí)別NPN/PNP
◆ 0~±2000V程控高壓源(可擴(kuò)展到3000V/15mA)
◆ 高達(dá)±500A程控高流源(可擴(kuò)展到±1300A)
◆ ±40V/±40A(可擴(kuò)展到±80V、±50A)的可編程電壓電流源通過(guò)測(cè)試系統(tǒng)先進(jìn)的硬件閉環(huán)測(cè)試方法實(shí)現(xiàn)功率VDMOS的GFS跨導(dǎo)的測(cè)試
◆ 測(cè)試漏流最小分辨率達(dá)6.1pA
◆ 四線(xiàn)開(kāi)爾文連接保證加載測(cè)量的準(zhǔn)確
◆ 通過(guò)IEEE488接口連接校準(zhǔn)數(shù)字表傳遞國(guó)家 計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行校驗(yàn)
◆ Prober接口、Handler接口可選(16Bin)
◆ 可為用戶(hù)提供豐富的測(cè)試適配器
測(cè)試系統(tǒng)主要測(cè)試對(duì)象參數(shù):
測(cè)試對(duì)象 | 測(cè)試參數(shù) |
二極管及整流橋 | BVR、IR、VF、VZ、RZ |
三極管 | BVCBO、BVCEO、BVCES、BVCER、BVEBO、HFE、ICBO、ICBS、ICEO、 ICES、ICER、IEBO、VBEF、VBCF、VBESAT、VCESAT、VBEON |
可控硅 | BVAKF、BVAKR、BVGKO、IAKF、IAKR、IGKO、IGT、IGD IH、IL、VGT、VGD、VT |
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